行业资讯
-
-
蔡司双束扫描电镜FIB-SEM 解锁先进半导体三维表征能力
先进芯片早已不再是简单的平面结构，GAA 环绕栅、3D 堆叠存储、TSV 硅通孔、三维封装，多层器件堆叠在一起，结构愈发复杂。仅仅观察样品表面形貌，已经无法满足先进半导体研发与失效分析需求。工程师想要看清芯片内部深埋的栅极、互连层、界面缺陷，就需要一边精准微切割，一边实时高分辨成像，Crossbeam FIB-SEM 蔡司双束扫描电镜，将聚焦离子束加工
-
-
蔡司扫描电镜维护保养指南：灯丝寿命、真空系统与日常检查清单
蔡司扫描电镜是精密设备，买得起更要养得起。很多用户设备出问题，不是坏在核心部件上，而是坏在维护习惯上 —— 灯丝用尽不及时换、真空没抽好就加高压、样品不干燥就上机。这篇蔡司扫描电镜维护保养指南，把日常最容易踩的坑和该做的事整理一遍昆山友硕新材料有限公司是蔡司中国官方授权商，业务涵盖：三坐标测量仪、工业CT无损检测设备，影像测量仪、三维扫描仪
-
-
蔡司GeminiSEM系列场发射扫描电镜——纳米级高精成像与前沿科研分析标杆
随着纳米材料、半导体芯片、精密器件、前沿生物医药等领域的快速发展，常规扫描电镜已无法满足亚纳米级超高分辨率成像、超低电压精细表征、精准微观分析的高端科研需求。蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM系列作为高端场发射扫描电镜的标杆产品，搭载蔡司扫描电镜Gemini电子光学系统，凭借*致的成像性能、多元的检测技术与超高的样品适配灵活性，成为高端材料
-
-
蔡司三坐标ZEISS MMZ 1让大件测量不用“分段测量”简单而精准
当工件大到以米为单位 测量，就变成了一场挑战 在风力发电、航空航天、汽车铸造与船舶制造等高端领域，超大工件的精密测量正成为质量升级的关键一环。工件尺寸越大，对测量设备的行程、精度、效率与稳定性的要求也呈几何级增长。 面对这些高要求，ZEISS MM 1大型蔡司三坐标测量机，以系统性设计，助力企业将挑战转化为可量化的质量成果。
-
-
蔡司三坐标复合式精密测量携手宇瞳光学共建质量测量体系
2026年7月7日，蔡司与宇瞳光学在东莞宇瞳总部举行“共建质量测量体系”签约暨揭牌仪式。蔡司中国首席执行官Martin Fischer、蔡司中国副总裁平颉，蔡司工业质量解决方案服务应用负责人王寅、蔡司工业质量解决方案大客户及行业发展负责人胡松杰、蔡司工业质量解决方案全国应用负责人龚纯意以及宇瞳光学董事长张品光、宇瞳光学研发技术中心总经理张占
-
-
测量涡轮蜗杆用哪款蔡司三坐标测量仪比较合适
测量蜗轮蜗杆，优先选蔡司三坐标昆山友硕代理的CONTURA(通用首选)、PRISMO verity(高精度)，中小件预算敏感用SPECTRUM，车间环境选PRISMO fortis。 一、核心推荐机型(按优先级) 1. 蔡司三坐标CONTURA 系列(通用首选，性价比最高) 精度：最高约1.4μm，满足蜗轮蜗
-
-
蔡司钨灯丝扫描电镜与场发射扫描电镜的主要区别是什么？
蔡司钨灯丝扫描电镜(如 EVO 系列)与蔡司场发射扫描电镜(如 Sigma 系列)的核心差异在于电子枪类型、分辨率、真空要求、使用成本与应用场景。选择时，优先看分辨率需求、是否需要低电压成像及预算。 一、核心区别(蔡司机型对照) 1. 电子枪与发射机制 钨灯丝(EVO)：热发射，V 形钨丝(曲率半径～0.1 mm)，工
-
-
蔡司X射线显微镜工业CT等光模块COB封装内部缺陷检测方案
光模块遵循芯片—组件(OSA)—模块的封装顺序。激光器芯片和探测器芯片通过传统的TO封装形成TOSA及ROSA，同时将配套电芯片贴装在 PCB，再通过精密耦合连接光通道和光纤，最终封装成为一个完整的光模块。新兴的主要应用于短距多模的COB采用混合集成方法，通过特殊的键合焊接工艺将芯片贴装在PCB上，采用非气密性封装。 未来技术的发展趋
-
-
蔡司工业CT在汽车电子领域的无损检测失效分析解决方案
在汽车电子零部件的研发与失效分析中，如果失效件整体结构完好、仅部分功能缺失，工程师通常可以先通过电性能测试等方式，追溯到可能失效的具体线路。紧接着的问题是：如何进一步确认失效节点，并判断失效原因? 传统做法往往依赖破坏性试验：对线路上可能失效的焊点与元器件进行拆解、剖切、打磨、再观察。这类方法虽然常见，但也会带来不可忽视的挑战—
-
-
蔡司高分辨X射线显微镜Versa系列VC均热板结构表征和内部缺陷检测
蔡司X射线显微镜Versa系列VC均热板质量检测 每一寸散热，都要精准高效 守护体验上限 ▲ 均热板样件 VC均热板的散热性能，直接决定折叠屏的高性能体验上限，也是提升产品力的关键，确保散热稳定高效。 核心质量挑战 在设计和生产制造过程中需要关注铜柱的直径与高度，毛细结构的厚度与孔径，凹陷/鼓包等缺陷检