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蔡司扫描电镜Gemini电子光学技术半导体失效分析

蔡司扫描电镜Gemini电子光学技术半导体失效分析

   您在半导体失效分析工作中遇到过这些困难吗?   难以实现高分辨高倍率的成像?   由于新材料和新器件结构的不断更新,困扰于用哪种合适的探测器获取高衬度和信噪比的图像?   疲于学习各种复杂的先进显微成像应用?   在显微镜中手动地导航到前序分析中找到的缺陷十分费时费力?   担忧电子束对于先进
蔡司聚焦离子束扫描电镜Crossbeam电子行业质量方案

蔡司聚焦离子束扫描电镜Crossbeam电子行业质量方案

   近日,国务院发布《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》中提到,统筹扩大内需和深化供给侧结构性改革,实施设备更新、消费品以旧换新、回收循环利用、标准提升四大行动;在实施标准提升行动方面,《行动方案》明确,聚焦汽车、家电、家居产品、消费电子、民用无人机等大宗消费品,加快安全、健康、性能、环保、检测等标准升级。   随着《行动方案》的
蔡司扫描电镜先进金属表征分析方法研讨会在北京成功举办

蔡司扫描电镜先进金属表征分析方法研讨会在北京成功举办

   2024年5月27日,由蔡司扫描电镜主办的先进金属表征分析方法研讨会在位于北京的蔡司显微成像客户服务中心成功举办。   本次研讨会针对先进金属前沿研究所急需的相关显微学新技术,及其发展现状进行了介绍与讨论。这些显微学新技术之间的联合应用、如何利用这些技术对材料科学中的前沿问题进行多维度 - 多尺度 - 多参数的综合分析研究,是本次研讨会上
蔡司扫描电镜新玩法轻松实现关联定位、自动成像和量化分析

蔡司扫描电镜新玩法轻松实现关联定位、自动成像和量化分析

   在使用扫描电镜的过程中,您是否总是遭遇如下问题:   1、在不同设备间切换样品时总需耗费大量时间重新定位感兴趣区域   2、总是为获取大面积高分辨图像而苦恼,需要频繁切换成像参数,调整像散聚焦   3、得到图像后又在为图像的量化分析而发愁   针对以上的困扰和需求,蔡司扫描电镜进行了全方位武装,特别推出智能电镜解决方案,解决以上提到的
蔡司场发射扫描电镜Sigma360碳纳米管观测

蔡司场发射扫描电镜Sigma360碳纳米管观测

   碳纳米管由于具有高导电性,高结构稳定性等优势,在锂离子电池材料中的应用已经崭露头角。它不仅可以作为负极材料发挥结构稳定等优势,独特的导电网络还可以提升电池的散热性能,循环寿命,也可以作为导电添加剂提高正极材料的性能,大大提高了电极材料及锂离子电池的性能。   碳纳米管作为一种具有石墨化结构的碳材料可以直接应用于负极材料,其电化学和他的微
蔡司扫描电镜在半导体领域的应用之线宽测量

蔡司扫描电镜在半导体领域的应用之线宽测量

   蔡司扫描电镜在半导体领域的应用之计量/测量   有人曾经说过:"如果我想得到准确的尺寸,我就把被测样品交给SEM扫描电镜操作员。如前所述,SEM是一种仪器,人们常常想当然地认为它是正确的,所产生的任何测量值也是正确的。在过去的几年里,SEM的测量精度有了*大的提高,CD-SEM也已经成为半导体加工生产线上监控制造过程的主要工具之一。但是,事
蔡司三坐标官方正规维护保养内容及流程步骤

蔡司三坐标官方正规维护保养内容及流程步骤

    想要你的蔡司三坐标测量仪持久精准,从选择蔡司官方weih服务开始,蔡司代理昆山友硕提供核心服务全面维护保养:   我们的维护包括校准和校正服务,以及所有机械和电气系统的检查和校准。这种全面的方案确保了良好的预防效果   1、保养前数据备份,设备状态检查保养前为您的数据备份,为您的设备提供双保险设备状态检查,发现隐患,提前预警
龚明教授谈用蔡司扫描电镜GeminiSEM取得的成果

龚明教授谈用蔡司扫描电镜GeminiSEM取得的成果

   蔡司代理昆山友硕小编获悉,近期蔡司对中国科学技术大学龚明教授进行了采访,谈了对于蔡司扫描电镜GeminiSEM在工作研究中的使用感受:   ▲中国科学技术大学工程与材料科学实验中心副主任,材料显微分析实验室主任,安徽省电镜学会副理事长龚明教授   您利用蔡司场发射扫描电镜取得了哪些工作成果?(部分)   一、聚焦生物材料力学
蔡司X射线显微镜纳米CT检测磷酸铁锂/碳正极材料孔隙

蔡司X射线显微镜纳米CT检测磷酸铁锂/碳正极材料孔隙

   蔡司X射线显微镜纳米工业CT技术用于表征磷酸铁锂/碳正极材料孔隙   焦等人借助纳米CT技术,探究了磷酸铁锂/碳正极材料孔隙三维形貌,实现对材料内部的直观性观察。研究过程主要包括精细样品制备、数据采集和数据预处理等。通过软件ImageJ,Avizo处理,实现对孔隙含量的定量计算。借助三维渲染分布图,得知内部存在少量独立孔隙,此类孔隙对电池容
FIB双束扫描电镜的原理及工作流程

FIB双束扫描电镜的原理及工作流程

   FIB双束扫描电镜是通过聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后,通过结合相应的气体沉积装置,纳米操纵仪,各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体的分析仪器。   FIB双束扫描电镜的工作流程如下:   1、执行激光加工的设置步骤   (1)将样品装载到样品夹上并
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