蔡司扫描电镜与FIB技术在电池材料研究中的应用优势

　　蔡司作为一家在光学和电子显微镜领域具有深厚技术积累的企业，提供聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)和飞秒激光(Laser-FIB)技术解决方案，为电池材料研究提供了强大助力。

　　卓越成像效果

　　FIB-SEM断层扫描结果精确可靠，成像和材料研究重复性高。在低加速电压下仍具备高分辨率和信噪比，可跟踪体素尺寸并自动控制图像质量，确保获取清晰、准确且稳定的微观结构图像。

　　高效研发流程

　　飞秒激光可快速切割大体积样品，显著提高研发效率，加速电池材料的研发进程。

　　高清3D分辨率

　　具有高3D分辨率和各向同性体素尺寸，可探测和成像小于3nm深度的区域，能够清晰呈现电池材料微观结构的精细细节，助力深入探究材料内部结构与性能之间的关系。

　　直观和可视化数据处理

　　可实现2D和3D数据可视化及模拟分析结果，配备成熟分析和统计流程。研究人员能够直观地观察和理解电池材料的微观结构、元素分布等信息，通过模拟分析预测材料性能，为研发决策提供有力支持。

　　推荐产品组合—蔡司扫描电镜Crossbeam系列

　　聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)

　　适用于高通量3D分析和样品制备，其分辨率、放大倍数、探针电流等参数优异，具备高分辨率3D断层扫描和分析能力，能轻松实现相关数据XRM/FIB/SEM/LM的关联，为研究提供全面而精准的数据支持。

　　ZEISS Crossbeam Laser

　　可以快速精确获取电池内部深层结构，成像过程无伪影无污染，并且便于在特定环境下转移样品，确保研究过程的高效与准确。

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