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扫描电子显微镜

蔡司MultiSEM高速扫描电子显微镜
蔡司MultiSEM高速扫描电子显微镜
    蔡司开启电子显微镜速度的革新时代   借助 MultiSEM 显微镜,您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今,您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显
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        蔡司开启电子显微镜速度的革新时代

      借助 MultiSEM 显微镜,您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今,您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显微镜(SEM)专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程,MultiSEM 便能够独立地自动完成高衬度图像采集。

      使用成熟的 ZEN 成像软件控制 MultiSEM:您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。

      以极高速度和纳米分辨率采集图像

      91 条电子束同时工作,拥有出色的成像速度。

      在几分钟内对1 mm2的区域成像,分辨率高达 4 nm。

      借助经优化的二次电子探测器,以低信噪比采集高衬度图像。

      大型样品的采集和成像

      MultiSEM 配备有一个可容纳 10 cm x 10 cm 大小样品的样品夹。

      对整个样品成像并发现所有细节,助力于科研。

      自动采集方案可实现大面积成像 - 您将获得精细的纳米图像,且不丢失可见信息。

      ZEN 成像软件

      使用成熟的ZEN软件简便直观地操控 MultiSEM,该软件被应用于所有蔡司成像系统

      智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高衬度捕获图像

      根据样品的实际情况,快速轻松地创建复杂的自动采集流程

      MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像

      开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发

      对大体积样品连续切片断层扫描的数据获取

      使用ATUMtome 自动切割树脂包埋生物组织。 一天内搜集多达1000个连续切片。

    硅晶片上的固定胶带

    将切片用胶带固定在硅晶片上并用蔡司的光学显微镜成像。使用蔡司的 ZEN 成像软件以及 Shuttle & Find 功能组件对整体成像。再将硅晶片移至 MultiSEM 电子显微镜下,对样品进行整体预览并利用 ZEN 软件用户界面规划整个实验。

     

      

    MultiSEM 截屏显示

    用图形化的控制中心设置整个实验。高效的自动切片检测可以识别和标注感兴趣区域,节省大量时间。